在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。


如何选择薄膜样本支撑窗材料？

适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础：

使用方便快捷；

避免造成待测样品污染；

优越的分析物透射比与强度；

对待测样品的耐化学性。